BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进行精密测量分析及筛选;

可针对以下封装的半导体器件进行高精度自动温度实验测量

(1)石英晶体谐振器、振荡器

(2)电阻、电容、电感

(3)二极管、三极管、场效应管(MOSFET)、IGBT、SCR

(4)光电耦合器

(5)MEMS

(6)声表面波器件(SAW Device)

(7)集成电路