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BW-4022A半导体分立器件测试系统测试现场

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陕西博微电通科技有限责任公司

联系人：武先生

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  • 029-****7397

邮箱： 350253797@qq.com

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博微BW-40/30系列半导体分立器件测试系统是针对Si/SiC/GaN材料的IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦及IC半导体器件（导通、关断、击穿、漏电、增益）等直流静态参数综合测试平台。
【基于Lab View开发平台】
【高压源2500V/高流源350A/车规级】
【16位ADC.采样速率≤1m/s】
【四线开尔文检测/极性自动识别】
【Prober/Handler接口可选/Rs232】
【可与分选机/探针台/编带机联机】
【高速水银继电器/测试速率高】
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