针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品，广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及军工院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。

半导体测试设备可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）测试精度可达16位ADC；动态双脉冲（包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg）及Rg/UIS/SC/C/RBSOA测试等；环境老化测试（包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/间歇寿命IOL/功率循环PCT3000 ）及热特性测试（包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）半导体器件测试设备/雪崩耐量测试UIS、二极管浪涌测试IFSM、热阻测试、晶闸管直流参数测试SCR、安全工作区正偏/反偏/短路安全工作区测试SOA，各类型探针台、高精度高低温箱及分立器件分选机系统等。