基础介绍:

WN-XFL6（贵金属高配）是一款化验室常用的元素快速分析仪器，具有高性能 SDD 探测器分辨率更佳，背景更低，同时计数率更高测试时间更快的特点，以及下照式大容量样品腔，可满足各种形状样品的测试需求，多种准直器和滤光片的切换组合，可满足各种检测方案的应用，自研多道搭载高分辨率探测器和自主研发的光路系统，性能稳定可靠。同时搭载自主研发的智能操作系统，操作简单，只需开盖、放入样品、关盖、点击检测即可完成一次样品分析，最大限度的减低人为误差，仪器环境适应性强，无需配备稳压装置，维护成本极低，安全可靠，多重保护及联动机制，保证仪器正常测试过程中与环境本底辐射无差异。

特点：

仪器采用 Si 半导体探测器分辨率远远好于国标 GB18043-2013 的要求

1.应用领域：

首饰加工厂、银行、检测机构、贵重金属回收、典当公司，高校等。

2.高精度分析：

采用先进的检测技术和高灵敏度的探测器，能够对各种样品进行精确的元素分析，准确测定元素的种类和含量。

3.快速检测：

在短时间内即可完成样品分析，大大提高了检测效率，满足实验室和工业现场的快速分析需求。

4.广泛适用性：

可分析固体、粉末、液体等多种形态的样品，适用于地质、冶金、环保、材料科学等多个领域。

5.操作简便：

仪器配备智能化的操作软件，界面友好，易于操作，即使非专业人员也能快速上手。

6.稳定性强：

经过严格的质量控制和优化设计，具有出色的稳定性和可靠性，确保长期稳定的分析性能。

参数：