电镀镀层厚度检测仪 电镀分析仪 膜厚测试仪 镀层测定仪器
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深圳市天创美科技有限公司
联系人:宋小姐
电镀镀层厚度检测仪是用于精准测量金属或非金属表面电镀层厚度的专业设备,对保障电镀工艺质量、控制生产成本及评估产品耐腐蚀性至关重要。
该仪器多采用磁性法、涡流法或X射线荧光光谱法(XRF)等原理。磁性法适用于非磁性基体上的磁性镀层(如铁基体镀镍),通过测量磁通量变化计算厚度;涡流法则用于导电基体上的非导电镀层(如铝基体镀塑),利用电磁感应原理检测;XRF法无需破坏样品,通过分析镀层元素特征X射线强度,实现多元素镀层厚度与成分同步测定。
其优势在于操作便捷、测量速度快,部分设备精度可达微米级,且支持多点测量与数据统计分析。仪器配备智能软件,可自动识别基体材质、生成检测报告,并兼容多种国际标准。广泛应用于汽车制造、电子元件、航空航天、五金饰品等行业,是电镀工艺质量控制、产品验收及失效分析的核心工具。
以下是深圳市天创美科技有限公司销售的X射线荧光光谱法(XRF)测试电镀镀层厚度设备的参数:
XRF膜厚分析仪
1.元素分析范围:硫(S)到铀(U)。
2.可分析元素数量及镀层层数:同时分析30种以上元素,五层镀层厚度。
3.含量分析范围:ppm到99.9%。
4.镀层厚度测量范围:一般在50μm以内。
5.平台移动范围:250mm*250mm*100mm(X*Y*Z)。
6.电源要求:220V 50/60Hz。
7.镀层厚度重复性:3%左右。
8. 元素含量测试精度:≤0.5%(含量96%以上)。
9.测试速度:120秒左右/次。
10.探测器分辨率:125±5eV。
深圳市天创美科技有限公司销售电镀镀层厚度检测仪
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13534231905--厂家直销: 深圳市天创美科技有限公司销售的产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、液相色谱仪(LC)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS Analyzer)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等,主要应用领域有电子电器(RoHS检测等)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、汞Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿、塑料(无卤测试等)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、卫生防疫、商品检验、质量检验、人体微量元素检验等。
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