荧光X射线测厚仪：这种测厚仪的工作原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度。它不会对样品造成损坏，测量迅速，主要应用于有色金属的板带箔加工和冶金行业的板带加工等领域。
超声波测厚仪：它是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的。当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。这种测厚仪适用于多种材料的厚度测量。
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