对于X射线,在其穿透被测材料后,射线强度 I 的衰减规律为 I=Ioe -μd;Io 为初始射线强度,I 为穿过物体后的射线强度,μ 为吸收系数,d 为射线穿过的厚度(克重);
当 μ 和 Io 一定时,I 仅仅是被测材料 d 的函数,所以测出 I 就可以知道厚度(克重)d。X射线厚度(克重)检测仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换厚度或克重的,即测量被测物所吸收的X射线能量,根据该X射线的能量值,确定被测产品的厚度(克重)。由X射线接收头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由处理系统转换为可供人们观看的实际厚度的数值或图形。